德国ZEISS X射线显微镜ZEISSXradiaContextmicroCT

Zeiss是一家制造光学和光电设备的德国品牌，总部位于Oberkochen(奥伯科亨市，巴登符堡州)。品牌的名称来源于它的创始人之一 —— 卡尔·蔡司先生（1816年-1888年）。它由卡尔·蔡司(Carl Zeiss)、恩斯特·卡尔·阿贝(Ernst Karl Abbe)和奥托·肖特(Otto Schott)于1846年在耶拿(Jena)建立。

X射线显微镜：

 

产品介绍：

 

科学研究和技术开发的进步极大程度地依赖于用以表征材料性能和特性的高效成像解决方案。无论是开发与论证用于描述材料性能和特性的模型，或是简单地对结构细节信息进行成像，能以三维方式揭示微观结构的细节是关键所在。ZEISS三维X射线显微镜（XRM）：即便是相对较大的样品，先进的成像解决方案也可以借助高衬度和亚微米分辨率出色地完成三维成像。在无损三维（3D）成像方面取得的这一系列突破性飞跃，大大拓宽了技术学科的研究范围。

 

型号示例：

 

德国ZEISS  ZEISSXradiaContextmicroCT

ZEISSXradiaContext是一款大视场、非破坏性3DX射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活的软件控制源及探测器定位，您可以在完整的三维环境中对大尺寸、重量25kg内和高尺度样本进行成像，同样也可以对小样品进行高分辨率的成像。

 

德国ZEISS  ZEISSXradiaCrystalCT

ZEISSXradiaCrystalCT是为您揭示样品晶体信息和微观结构秘密的开创性微米CT。本产品以其独特方式扩展了计算机断层扫描的强大技术，使其具有展示晶体晶粒微观结构的能力，改变了研究多晶体材料（如金属、增材制造、陶瓷等）的方式，从而为您的材料研究带来更新、更深的洞见。

 

德国ZEISS  ZEISSXradia610&620Versa

ZEISSXradia610&620Versa3DX射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术，Xradia610&620Versa大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。

 

德国ZEISS  ZEISSXradia520Versa

亚微米X射线显微镜Xradia520Versa基于业界前沿的高分辨率和衬度成像技术，拓展了无损成像的应用局限。创新的成像衬度和图像采集技术让你自由地定位并发现您前所未见过的信息。

 

德国ZEISS  ZEISSXradia515Versa

ZEISSXradia515Versa得益于两级放大的架构，可实现大工作距离下亚微米级分辨率成像（RaaD）。减少对单级几何放大的依赖性，在大工作距离下依然保持了亚微米级分辨率。

 

德国ZEISS  ZEISSXradia410Versa

Xradia410Versa填补了高性能三维X射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描（CT）系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的成像应用。

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